Fischerscope X-Ray XULM  微聚焦X-射线荧光测厚仪

这是一款依据X-射线荧光的原理来测量镀层厚度及材料成份分析的仪器，专门用于测量： 金属镀层厚度和金属材料的成份。

基本配置：

• 仪器：            Fischerscope X-Ray XULM 测量头
• 电脑：            安装 WinFTM V3  测试软件
• 标准片：          X-Ray 仪器专用标准片

应用

特征：

• 标    准：         DIN 60987 、 ASTM B568、ISO 3497
• 测量范围：         从 铝（z＝13） 到 铀（z＝92）
• 标准软件：         WinFTM V3;  可另购 PDM 软件
• 测量方向：         由下而上
• X－射线管：        微焦距射线管，适合于测量精细的产品 ；可加 Ni 和 Al 滤波器 
• X－射线管高压：    30KV、40KV、50KV 可调
• 视 准 器：     4个电动视准器：Φ 0.1 / 0.2 mm ； 0.05 * 0.05 mm；0.03 * 0.2 mm 
• 最小测量面积：     Φ 0.15 mm 
• 有效对焦范围：     27.5 mm 
• X 射线接收器：    高读数氙气气体比例接收器
• 测 量 台：        固定测量台或手动测量台    
• 样品定位：        直接放置定位或选配手动 X-Y 定位台 
• 测量室尺寸：        360W * 380D * 240H  mm 
• 测量点对焦：      利用旋钮视觉对焦
• 放大倍数：        光学： 38-46 x；
•                   数字：1、2、3、4 x 
•                   总倍数：  38 － 184
• 测量头重量：      约 35 Kg
• 测量头尺寸：     375W * 580D * 480H mm